产品资料

蒸气老化试验,全智能蒸汽老化寿命试验机

蒸气老化试验,全智能蒸汽老化寿命试验机
产品名称: 蒸气老化试验,全智能蒸汽老化寿命试验机
产品型号: HTS-LHX8660
产品展商: 中野精科

简单介绍

蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。微电脑温度控制器、LED数字显示,PID+SSR控制,白金电阻温度传感器(PT100),解析度0.1℃。


详细介绍

仪器概述

蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。微电脑温度控制器、LED数字显示,PID+SSR控制,白金电阻温度传感器(PT100),解析度0.1℃。


仪器尺寸

1.工作室尺寸: 500*400*170 mm(W×H×D)

2.外箱尺寸:600×500×420 mm(W×H×D)

3.内外箱材质:SUS304上等不锈钢

4.保温层:PV发泡胶

5.升温时间:大约40分钟

6.控制功能:PID+SSR.数字显示

7.蒸气温度:97℃

8.计时功能:1-999分钟/时

9.报警功能:附时到报警功能.时间到达后切断电源

10水位控制:附水箱自动补水

11.电源:220V 3KW

内外箱体材质:SUS304#上等不锈钢板

试样盒尺寸:92x285x40mm 3组


结构特点

老化箱整体不锈钢SUS #304 HL制成,操作设定简易微电脑数位LED控制,具时间规划功能,*大可设定9,990Mins多重超温保护/缺水切电热等安全装置。零件、连接器被动元件,半导体接脚高温高湿氧化试验。金属接脚沾锡性试验加速老化试验。采用式PID+SSR温度控制器,同时具有时间计时功能,*大可设定999分式无限。




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